NaAlSi3O8, pouvant contenir des traces de Ca, K et Mg.
Clichés MEB (microscope électronique à balayage), à gauche et analyse EDS (analyse dispersive en énergie), à droite.
Photographe : Béatrice Yven.
Sources : Institut des Sciences de la Terre de Paris (ISTeP), Sorbonne Université, campus Pierre et Marie Curie, Paris, et IPGP Géologie des matériaux (Institut de physique du Globe de Paris).